Scenejaj mikrometroj, kalibraj skaloj, kradoj
Produkta Priskribo
Mikrometroj sur scenejo, alĝustigaj regliloj kaj kradoj estas ofte uzataj en mikroskopio kaj aliaj bildigaj aplikoj por provizi normajn referencskalojn por mezurado kaj alĝustigo. Ĉi tiuj aparatoj estas tipe metitaj rekte sur la mikroskopan scenejon kaj estas uzataj por karakterizi la pligrandigon kaj optikajn ecojn de la sistemo.
Mikrometro sur scenejo estas malgranda vitrolameto enhavanta kradon de precize skribitaj linioj je konata interspaco. Kradoj ofte estas uzataj por kalibri la pligrandigon de mikroskopoj por permesi precizajn mezuradojn de grandeco kaj distanco de specimenoj.
Alĝustigaj mezuriloj kaj kradoj similas al ŝtupaj mikrometroj, ĉar ili enhavas kradon aŭ alian ŝablonon de precize difinitaj linioj. Tamen, ili povas esti faritaj el aliaj materialoj, kiel metalo aŭ plasto, kaj varias laŭ grandeco kaj formo.
Ĉi tiuj kalibraj aparatoj estas kritikaj por precize mezuri specimenojn sub la mikroskopo. Uzante konatan referencan skalon, esploristoj povas certigi, ke iliaj mezuradoj estas precizaj kaj fidindaj. Ili estas ofte uzataj en kampoj kiel biologio, materialscienco kaj elektroniko por mezuri la grandecon, formon kaj aliajn ecojn de specimenoj.
Jen Stage Micrometer Calibration Scale Grids - noviga kaj fidinda solvo por certigi precizajn mezuradojn en vasta gamo da industrioj. Kun gamo da malsamaj aplikoj, ĉi tiu nekredeble multflanka produkto ofertas neegalitan precizecon kaj komforton, igante ĝin esenca ilo por profesiuloj en kampoj kiel mikroskopio, bildigo kaj biologio.
La kerno de la sistemo estas la ŝtupa mikrometro, kiu provizas gradigitajn referencpunktojn por kalibri mezurilojn kiel mikroskopojn kaj fotilojn. Ĉi tiuj daŭremaj, altkvalitaj mikrometroj haveblas en diversaj grandecoj kaj stiloj por kontentigi la bezonojn de malsamaj industrioj, de simplaj unuliniaj skaloj ĝis kompleksaj kradoj kun pluraj krucoj kaj cirkloj. Ĉiuj mikrometroj estas lasere gravuritaj por precizeco kaj havas altkontrastan dezajnon por facileco de uzo.
Alia ŝlosila trajto de la sistemo estas la kalibriga skalo. Ĉi tiuj zorge kreitaj skaloj provizas vidan referencon por mezuradoj kaj estas esenca ilo por kalibrigi mezurekipaĵon kiel mikroskopajn ŝtupojn kaj XY-translaciajn ŝtupojn. La skaloj estas faritaj el altkvalitaj materialoj por certigi daŭripovon kaj longdaŭrecon, kaj estas haveblaj en diversaj grandecoj por plenumi la postulojn de malsamaj aplikoj.
Fine, GRIDS provizas gravan referencpunkton por precizaj mezuradoj. Ĉi tiuj kradoj venas en gamo da malsamaj ŝablonoj, de simplaj kradoj ĝis pli kompleksaj krucoj kaj cirkloj, provizante vidan referencon por precizaj mezuradoj. Ĉiu krado estas desegnita por daŭripovo kun alt-kontrasta, laser-gravurita ŝablono por supera precizeco.
Unu el la ĉefaj avantaĝoj de la sistemo STAGE MICROMETERS CALIBRATION SCALES GRIDS estas ĝia komforto kaj versatileco. Kun gamo da malsamaj mikrometroj, skaloj kaj kradoj elekteblaj, uzantoj povas elekti la perfektan kombinaĵon por sia specifa apliko. Ĉu en la laboratorio, kampo aŭ fabriko, la sistemo liveras la precizecon kaj fidindecon, kiujn profesiuloj postulas.
Do, se vi serĉas fidindan, altkvalitan solvon por viaj mezurbezonoj, ne serĉu plu ol la Stage Micrometer Calibration Ruler Grids. Kun sia escepta precizeco, daŭreco kaj oportuno, ĉi tiu sistemo certe fariĝos valora ilo en via profesia arsenalo.




Specifoj
Substrato | B270 |
Dimensia Toleremo | -0,1mm |
Dikeca Toleremo | ±0,05mm |
Surfaca Plateco | 3(1)@632.8nm |
Surfaca Kvalito | 40/20 |
Linia Larĝo | 0,1mm kaj 0,05mm |
Randoj | Muelita, maks. 0,3 mm. Plena larĝa bevelo |
Klara Aperturo | 90% |
Paraleleco | <45 coloj |
Tegaĵo
| Alta optika denseco opaka kromo, Tabs<0.01%@Videbla Ondolongo |
Travidebla Areo, AR R<0.35%@Videbla Ondolongo |